動態雷射粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z

動態雷射 粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z
Dynamic Laser Particle Size/Zeta Potential Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA
產品簡介
1. 廣泛分析範圍，可測量粒徑、zeta 電位及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測

領域
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色
●　操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
●　採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
●　軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
●　超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析，100uL即可進行zeta 電位分析
●　獨家設計可拆洗式zeta電位量測樣品槽，可單獨替換電極部分，大量節省日後耗材費用

Model	SZ-100Z
測量原理	Particle size : Dynamic Light Scattering Zeta potential : Laser Doppler electrophoresis Molecular weight : Debye plot method
粒徑測量範圍	Particle size : 0.3nm to 8um Zeta potential : -200 to +200mV Molecular weight : 1×103～2×107
最大樣品濃度	40wt%
測量時間	約2分鐘
溫控系統	電子控溫可設定1-90℃
連線	USB2.0
光學系統	(1)   光源 : 532nm綠光雷射 (2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度	15℃～35℃、85％RH以下
電源	AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸	528(W)*385(D)*273(H) mm
重量	25kg

全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
www.trendtop.com.tw
sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3

關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑

【動態雷射粒徑分佈儀】SZ-100S

Dynamic Laser Particle Size Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA

應用領域第一層    □材料分析 □食品飼料製藥

產品簡介 
1. 廣泛分析範圍，可測量奈米粒徑及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測
3.
領域 
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色 
●　操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
●　特殊開發多角度高靈敏接收偵測器，可偵測低濃度及高濃度樣品的粒徑分佈
●　採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
●　軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
●　超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析

Model	SZ-100S
測量原理	Particle size : Dynamic Light Scattering Molecular weight : Debye plot method
測量範圍	Particle size : 0.3nm to 8um Molecular weight : 1×103～2×107
最大樣品濃度	40wt%
粒徑精確度	±2%以內(NIST Traceable Standards)
測量角度	90 and 173
測量時間	約2分鐘(從開始測量到顯示測量結果)
溫控系統	電子控溫可設定1-90℃
連線	USB2.0
光學系統	(1)   光源 : 532nm綠光雷射 (2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度	15℃～35℃、85％RH以下
電源	AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸	528(W)*385(D)*273(H) mm
重量	25kg

【雷射散射粒徑分佈儀】 LA-960

【雷射散射粒徑分佈儀】 LA-960
Laser Scattering Particle Size Distribution Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA


粒徑分析儀 產品簡介
1. LA系列最新機種，具備中文操作介面，配件擴充性廣及具有高精確度及再現性測試結果


特色
●　涵蓋粒徑10nm到5000um超大的量測範圍。
●　±0.6％的高精度保證並具±0.1％高重複性。
●　從加入分散相、投樣、測定、排空洗淨及計算結果，每一樣本在1分鐘即可完成。
●　軟體系統中的”導航功能”簡化了複雜的參數設定及測定步驟。
●　可同時安裝三種不同樣品分散系統(濕式、乾式、微量)，切換簡易，無需拆卸。

 

* 加裝乾式系統之粒徑分析儀

Model	LA-960
測量原理	Mie散射原理
測量粒徑範圍	0.01-5000um
測量時間	1分鐘(從分散相加入到循環系統洗淨並顯示測試結果)
測量所需樣品量	10mg~5g
分散液所需量	約180~250mL(使用循環系統時)約10mL(使用微量分析裝置)
可使用的分散液	水、乙醇及有機溶劑
連線	USB2.0
光學系統	(1)   光源 : 半導體雷射(650nm) 5mW、 LED(405nm) 3mW (2)   檢測器 : 矽光電二極體
樣品循環系統	(1)   超音波輔助分散裝置 : 30W 20kHz (2)   可調式循環馬達 : 可15段變化最大循環量每分鐘10L (3)   Flow cell(Tempax glass)
使用温度、濕度	15℃～35℃、85％RH以下
電源	AC100/120/230V 50/60Hz 300VA
外型尺寸	705(W)*565(D)*500(H) mm
重量	56kg

全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
www.trendtop.com.tw
sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3

關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑

螢光X光【元素分析儀】

A11-005
X-Ray Fluorescence Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA
應用領域第一層    □材料分析

產品簡介    1. 為客戶提供篩選含有有害元素，如鉛，鎘，汞，鉻，溴，銻樣品的測量及符合RoHS，ELV和Cl的無鹵應用程序。

領域
1.學術研究
2.貴金屬回收、重金屬汙染分析、礦石成分分析
3.RoHS檢測

特色
●　內建7mm、3mm、1.2mm三種光徑，可針對不同尺寸樣品提供最佳測量條件
●　具四組濾波器，可提升元素檢測能力
●　兩年保固最新高感度SDD偵測器
●　不需抽真空，即可檢測Al、Si、P、S、Cl等輕元素

Model	MESA-50
原理	能量散射X射線螢光光譜儀
應用	RoHS、ELV、無鹵
測量元素	13Al - 92U
樣品類型	固體、液體、粉體
X-ray tube	Max 50kV, 0.2mA
X-ray analysis diameter	1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
X-ray primary filter	X-ray primary filter
Detector type	SDD (Silicon Drift Detector)
Signal processor	DPP (Digital Pulse Processor)
Sample imaging	CCD camera
Operation	PC (Windows ® 7)
Power supply	AC adapter (100-240V, 50/60Hz), battery
Analysis Function	Multilayer Film FPM (Optional), Sb/As analysis (Optional)
Model	MESA-50K
原理	能量散射X射線螢光光譜儀
應用	RoHS、ELV、無鹵
測量元素	13Al - 92U
樣品類型	固體、液體、粉體
X-ray tube	Max 50kV, 0.2mA
X-ray analysis diameter	1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
X-ray primary filter	X-ray primary filter
Detector type	SDD (Silicon Drift Detector)
Signal processor	DPP (Digital Pulse Processor)
Sample imaging	CCD camera
Chamber size	460*360*150mm[W*D*H]
Operation	PC (Windows ® 7)
Power supply	AC adapter (100-240V, 50/60Hz)
Analysis Function	Multilayer Film FPM (Optional), Sb/As analysis (Optional)