動態雷射 粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z
Dynamic Laser Particle Size/Zeta Potential Analyzer
產地 日本
品牌 HORIBA
產品簡介
1. 廣泛分析範圍，可測量粒徑、zeta 電位及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測
領域
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料
特色
● 操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
● 採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
● 軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
● 超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析，100uL即可進行zeta 電位分析
● 獨家設計可拆洗式zeta電位量測樣品槽，可單獨替換電極部分，大量節省日後耗材費用
Model
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SZ-100Z
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測量原理
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Particle size : Dynamic Light Scattering
Zeta potential : Laser Doppler electrophoresis
Molecular weight : Debye plot method
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粒徑測量範圍
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Particle size : 0.3nm to 8um
Zeta potential : -200 to +200mV
Molecular weight : 1×103～2×107
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最大樣品濃度
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40wt%
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測量時間
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約2分鐘
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溫控系統
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電子控溫可設定1-90℃
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連線
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USB2.0
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光學系統
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(1) 光源 : 532nm綠光雷射
(2) 檢測器 : 光電倍增管
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使用温度、濕度
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15℃～35℃、85％RH以下
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電源
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AC100-240V 50/60Hz 150VA
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外型尺寸
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528(W)*385(D)*273(H) mm
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重量
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25kg
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關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑
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