奈米級熱膨脹分析儀

德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀

德國NETZSCH熱分析第一品牌推出世界第一台採用奈米級光學莫列波紋位移偵測器，能提供全範圍高解析度長度變化偵測，薄片樣品亦可精準測量 最強性能 無與倫比 位移偵測解析度最高0.1nm（依機種而定），可檢測極小之長度變化量 樣品初始長度自動偵測，降低誤差 接觸力可數位程控，並可偵測實際施力大小，避免摩擦力影響 提供-180 ~ 2000℃多種溫度範圍爐體 可同時搭載兩種爐體 可抽真空、通氣氛 可升級雙桿偵測，同時量測兩個樣品 自動調整樣品位置，取得最佳量測狀態 NanoEye 奈米級光學位移偵測器 傳統熱膨脹量測設備採用LVDT位移偵測器，因設計上的限制，樣品長度與標準品長度差異在20%以內才能維持較佳的偵測精度，太長或太短的樣品變會產生較大的誤差，所以在樣品製備上有很大的限制。而部分產品採用傳統光學感測器則有解析度不高的缺點，無法提供高精度的測量。NETZSCH DIL 402 Expedis系列採用最新Moiré Pattern位移感測器，全測量範圍均可提供最高解析度，不受樣品與標準品長度差異影響，解析度依機種最高可達0.1nm，一次解決薄片、低膨脹率樣品不易量測的問題。 最高3N的數位施力控制，並具有施力感測器，可即時監控並控制實際施力大小。傳統熱膨脹設備僅透過彈簧調整施力，無法確實得知每個樣品的受力是否相同，容易造成測量誤差。NETZSCH DIL 402 Expedis的自動施力控制設計，亦可抵銷樣品與載台間的摩擦力，量測樣品真正的膨脹收縮率。 施力可程控，高階機種具多種施力模式，可模擬DMA分析 提供多種溫度範圍爐體 提供-180 ~500℃、-150 ~ 1000℃、RT~1150℃、RT~1600℃、RT~2000℃不同溫度段爐體選擇，使用者可依預算及應用選擇適合之爐體 可同時安裝兩個爐體，擴展溫度範圍或可增快測量速度 真空及氣氛控制 真空爐體設計，依搭配之真空幫浦最高可至10^-4mbar 內建一組MFC質量流量控制器，最多可擴充為3組 樣品位置自動調整及初始長度自動測量 獨特的樣品位置自動調整功能，在擺放樣品後，推桿會自動推擠樣品，調整至最佳量測位置，避免因樣品擺放不良影響測試 放置樣品後，可自動記錄樣品初始長度，確保量測之初始長度為啟始溫度下之長度值，避免膨脹率計算產生誤差 熱電偶可調整測量位置，確實控制樣品溫度 偵測室熱盾系統 熱盾系統可使偵測室保持恆溫，避免環境或爐體溫度擾動造成測量誤差 彩色資訊顯示，遠端APP監測 儀器具有彩色屏幕，可顯示儀器狀態 可下載手機APP，進行遠端監測，不需守候在儀器旁即可即時得知儀器狀態，並設有遠端異常通知及緊急停止功能 影片說明 *詳細資訊歡迎聯絡洽詢！！

全拓科技有限公司 Tel: 02-82273526 Fax: 02-82273527 Web: www.trendtop.com.tw Email: sales@trendtop.com.tw

現在就採購德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀,解決您的熱分析研究

德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀

德國NETZSCH熱分析第一品牌推出世界第一台採用奈米級光學莫列波紋位移偵測器，能提供全範圍高解析度長度變化偵測，薄片樣品亦可精準測量 最強性能 無與倫比 位移偵測解析度最高0.1nm（依機種而定），可檢測極小之長度變化量 樣品初始長度自動偵測，降低誤差 接觸力可數位程控，並可偵測實際施力大小，避免摩擦力影響 提供-180 ~ 2000℃多種溫度範圍爐體 可同時搭載兩種爐體 可抽真空、通氣氛 可升級雙桿偵測，同時量測兩個樣品 自動調整樣品位置，取得最佳量測狀態 NanoEye 奈米級光學位移偵測器 傳統熱膨脹量測設備採用LVDT位移偵測器，因設計上的限制，樣品長度與標準品長度差異在20%以內才能維持較佳的偵測精度，太長或太短的樣品變會產生較大的誤差，所以在樣品製備上有很大的限制。而部分產品採用傳統光學感測器則有解析度不高的缺點，無法提供高精度的測量。NETZSCH DIL 402 Expedis系列採用最新Moiré Pattern位移感測器，全測量範圍均可提供最高解析度，不受樣品與標準品長度差異影響，解析度依機種最高可達0.1nm，一次解決薄片、低膨脹率樣品不易量測的問題。 最高3N的數位施力控制，並具有施力感測器，可即時監控並控制實際施力大小。傳統熱膨脹設備僅透過彈簧調整施力，無法確實得知每個樣品的受力是否相同，容易造成測量誤差。NETZSCH DIL 402 Expedis的自動施力控制設計，亦可抵銷樣品與載台間的摩擦力，量測樣品真正的膨脹收縮率。 施力可程控，高階機種具多種施力模式，可模擬DMA分析 提供多種溫度範圍爐體 提供-180 ~500℃、-150 ~ 1000℃、RT~1150℃、RT~1600℃、RT~2000℃不同溫度段爐體選擇，使用者可依預算及應用選擇適合之爐體 可同時安裝兩個爐體，擴展溫度範圍或可增快測量速度 真空及氣氛控制 真空爐體設計，依搭配之真空幫浦最高可至10^-4mbar 內建一組MFC質量流量控制器，最多可擴充為3組 樣品位置自動調整及初始長度自動測量 獨特的樣品位置自動調整功能，在擺放樣品後，推桿會自動推擠樣品，調整至最佳量測位置，避免因樣品擺放不良影響測試 放置樣品後，可自動記錄樣品初始長度，確保量測之初始長度為啟始溫度下之長度值，避免膨脹率計算產生誤差 熱電偶可調整測量位置，確實控制樣品溫度 偵測室熱盾系統 熱盾系統可使偵測室保持恆溫，避免環境或爐體溫度擾動造成測量誤差 彩色資訊顯示，遠端APP監測 儀器具有彩色屏幕，可顯示儀器狀態 可下載手機APP，進行遠端監測，不需守候在儀器旁即可即時得知儀器狀態，並設有遠端異常通知及緊急停止功能 影片說明 *詳細資訊歡迎聯絡洽詢！！

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全新系列熱電材料熱分析設備，給您最精準、穩定的量測體驗

完整熱電材料量測解決方案

熱分析第一品牌德國NETZSCH於今年推出全新Seebeck分析設備及全新系列熱電材料熱分析設備，給您最精準、穩定的量測體驗

NETZSCH SBA 458 Seebeck分析儀

溫度範圍：RT ~ 800℃，可設定無限段量測溫度 樣品尺寸：圓形樣品直徑12.7 ~ 25.4mm，方形樣品長12.7 ~ 25.4mm寬2 ~ 25.4mm，厚度小於2mm，樣品採平面放置，量測容易 量測參數：seebeck coefficient, electrical conductivity 適用氣氛：惰性、氧化、還原（2%H2)、真空 熱電偶具有保護鍍層，可避免樣品污染損壞。位置固定，無須量測熱電偶距離 具雙向溫度梯度加熱器，可正反向交互加熱，確認量測是否正確

NETZSCH LFA 467 閃光法熱傳導分析儀

溫度範圍：具兩種溫度段可選，-150 ~ 500℃ 或 室溫 ~ 1500℃ 三大神器：2MHz高速資料擷取、最短1mS量測時間、最小20µS超短脈衝時間，可量測超薄樣品 可抽真空、通氧化、惰性氣體 固體、粉體、高低黏度液體、熔融樣品、纖維、疊合、In-plane異向量測等，提供最齊全量測治具 提供超過20種計算模型，有效降低測量誤差 閃光法全球銷售第一品牌，市場占有率9成

NETZSCH DSC 214 智能型熱示差掃描量熱儀

精準Cp比熱測量 溫度範圍：-170 ~ 600℃ （室溫以下需搭配低溫系統） 升降溫速率最高500K/min 特殊劇場型3D溫控爐體，無傳統底部加熱DSC溫度不均問題 專利環形感測器，增加感應面積，量測更精準 專利底部內凹坩堝，可大幅提昇量測重複性，降低傳統坩堝底部容易變形造成的誤差，對於Cp量測可達更加的準確度 全自動分析軟體，可自動分析Tg、Tm、冷結晶等，不需人工判讀 資料庫圖譜比對功能，可自動判別樣品成分或與圖庫圖譜比對相似度 另提供1000℃以上機種，歡迎洽詢

NETZSCH DIL 402 Expedis 智能型熱膨脹分析儀

可量測密度隨溫度之變化 溫度範圍：具多種溫度段爐體可選，最高可達2000℃ 專利NanoEye超高精度自動量測控制系統，可精準控制施力並即時記錄，可完全抵銷摩擦力影響。精密光學位移偵測器最大量測範圍可達25mm，全段解析度最高0.1nm 專利Multitouch樣品位置自動調整功能，確保樣品在最佳量測位置 資料庫圖譜比對功能，可自動判別樣品成分或與圖庫圖譜比對相似度 可選購雙推桿，同時進行兩個樣品測量 可選購雙爐體系統，安裝兩個爐體 可抽真空，通氧化、還原、惰性氣體

全拓科技有限公司 Tel：02-8227-3526 web：www.trendtop.com.tw

石墨紙熱傳導量測要怎樣才能準確的測量？

石墨紙熱傳導量測設備

石墨紙熱傳導量測是不是傷透你的腦？到底什麼設備才能準確的測量？ 只有全拓科技給您最佳的量測解決方案！

石墨紙熱傳導完整量測方案 德國NETZSCH針對石墨紙熱傳導量測，推出一系列最佳的量測設備，為目前全球銷售第一的量測方案，也是唯一被真正認可的檢測方式

LFA 467 閃光法熱擴散分析儀

樣品製備最簡單，僅需1吋大小樣品即可測量 量測時間短，僅需1~5分鐘即可完成測量 準確度重複性高 儀器耗材少，使用壽命超長 全球銷售第一的量測設備，不需擔心數據受到質疑

DSC 214 比熱量測儀

全球唯一專利環形感測器，可大幅提昇量測感度 全球唯一專利劇場型全實心銀製爐體，具有極佳均溫性及控溫性，可達500℃/min超高升降溫速率 全球唯一專利微米內凹坩堝，可提高不同坩堝間的重複性 三大專力加持，比熱量測性能大躍進 提供4種不同重量藍寶石比熱標準品，可因應樣品重量提供最佳選擇 另具有全自動DSC曲線分析及圖庫比對功能，不需繁雜操作

DIL 402 Expedis 熱膨脹密度量測儀

石墨紙的熱傳量測最容易被忽略的參數即為溫度對密度的影響，在不同的溫度下，樣品會因膨脹、收縮，造成密度的改變，影響熱傳導數值。透過量測樣品的熱膨脹係數，才能得知正確的密度。若無法量測樣品隨溫度變化的正確密度，則無法量測正確的熱傳導 NETZSCH DIL 402 Expedis提供最高的量測解析度，是唯一可準確測量微米等級薄膜熱膨脹的量測設備

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