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德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀

德國NETZSCH熱分析第一品牌推出世界第一台採用奈米級光學莫列波紋位移偵測器，能提供全範圍高解析度長度變化偵測，薄片樣品亦可精準測量 最強性能 無與倫比 位移偵測解析度最高0.1nm（依機種而定），可檢測極小之長度變化量 樣品初始長度自動偵測，降低誤差 接觸力可數位程控，並可偵測實際施力大小，避免摩擦力影響 提供-180 ~ 2000℃多種溫度範圍爐體 可同時搭載兩種爐體 可抽真空、通氣氛 可升級雙桿偵測，同時量測兩個樣品 自動調整樣品位置，取得最佳量測狀態 NanoEye 奈米級光學位移偵測器 傳統熱膨脹量測設備採用LVDT位移偵測器，因設計上的限制，樣品長度與標準品長度差異在20%以內才能維持較佳的偵測精度，太長或太短的樣品變會產生較大的誤差，所以在樣品製備上有很大的限制。而部分產品採用傳統光學感測器則有解析度不高的缺點，無法提供高精度的測量。NETZSCH DIL 402 Expedis系列採用最新Moiré Pattern位移感測器，全測量範圍均可提供最高解析度，不受樣品與標準品長度差異影響，解析度依機種最高可達0.1nm，一次解決薄片、低膨脹率樣品不易量測的問題。 最高3N的數位施力控制，並具有施力感測器，可即時監控並控制實際施力大小。傳統熱膨脹設備僅透過彈簧調整施力，無法確實得知每個樣品的受力是否相同，容易造成測量誤差。NETZSCH DIL 402 Expedis的自動施力控制設計，亦可抵銷樣品與載台間的摩擦力，量測樣品真正的膨脹收縮率。 施力可程控，高階機種具多種施力模式，可模擬DMA分析 提供多種溫度範圍爐體 提供-180 ~500℃、-150 ~ 1000℃、RT~1150℃、RT~1600℃、RT~2000℃不同溫度段爐體選擇，使用者可依預算及應用選擇適合之爐體 可同時安裝兩個爐體，擴展溫度範圍或可增快測量速度 真空及氣氛控制 真空爐體設計，依搭配之真空幫浦最高可至10^-4mbar 內建一組MFC質量流量控制器，最多可擴充為3組 樣品位置自動調整及初始長度自動測量 獨特的樣品位置自動調整功能，在擺放樣品後，推桿會自動推擠樣品，調整至最佳量測位置，避免因樣品擺放不良影響測試 放置樣品後，可自動記錄樣品初始長度，確保量測之初始長度為啟始溫度下之長度值，避免膨脹率計算產生誤差 熱電偶可調整測量位置，確實控制樣品溫度 偵測室熱盾系統 熱盾系統可使偵測室保持恆溫，避免環境或爐體溫度擾動造成測量誤差 彩色資訊顯示，遠端APP監測 儀器具有彩色屏幕，可顯示儀器狀態 可下載手機APP，進行遠端監測，不需守候在儀器旁即可即時得知儀器狀態，並設有遠端異常通知及緊急停止功能 影片說明 *詳細資訊歡迎聯絡洽詢！！

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