螢光X光【元素分析儀】

A11-005
X-Ray Fluorescence Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA
應用領域第一層    □材料分析

產品簡介    1. 為客戶提供篩選含有有害元素，如鉛，鎘，汞，鉻，溴，銻樣品的測量及符合RoHS，ELV和Cl的無鹵應用程序。

領域
1.學術研究
2.貴金屬回收、重金屬汙染分析、礦石成分分析
3.RoHS檢測

特色
●　內建7mm、3mm、1.2mm三種光徑，可針對不同尺寸樣品提供最佳測量條件
●　具四組濾波器，可提升元素檢測能力
●　兩年保固最新高感度SDD偵測器
●　不需抽真空，即可檢測Al、Si、P、S、Cl等輕元素

Model	MESA-50
原理	能量散射X射線螢光光譜儀
應用	RoHS、ELV、無鹵
測量元素	13Al - 92U
樣品類型	固體、液體、粉體
X-ray tube	Max 50kV, 0.2mA
X-ray analysis diameter	1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
X-ray primary filter	X-ray primary filter
Detector type	SDD (Silicon Drift Detector)
Signal processor	DPP (Digital Pulse Processor)
Sample imaging	CCD camera
Operation	PC (Windows ® 7)
Power supply	AC adapter (100-240V, 50/60Hz), battery
Analysis Function	Multilayer Film FPM (Optional), Sb/As analysis (Optional)
Model	MESA-50K
原理	能量散射X射線螢光光譜儀
應用	RoHS、ELV、無鹵
測量元素	13Al - 92U
樣品類型	固體、液體、粉體
X-ray tube	Max 50kV, 0.2mA
X-ray analysis diameter	1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
X-ray primary filter	X-ray primary filter
Detector type	SDD (Silicon Drift Detector)
Signal processor	DPP (Digital Pulse Processor)
Sample imaging	CCD camera
Chamber size	460*360*150mm[W*D*H]
Operation	PC (Windows ® 7)
Power supply	AC adapter (100-240V, 50/60Hz)
Analysis Function	Multilayer Film FPM (Optional), Sb/As analysis (Optional)