X-Ray Fluorescence Analyzer
產地 日本
品牌 HORIBA
應用領域第一層 □材料分析
產品簡介 1. 為客戶提供篩選含有有害元素,如鉛,鎘,汞,鉻,溴,銻樣品的測量及符合RoHS,ELV和Cl的無鹵應用程序。
領域
1.學術研究
2.貴金屬回收、重金屬汙染分析、礦石成分分析
3.RoHS檢測
特色
● 內建7mm、3mm、1.2mm三種光徑,可針對不同尺寸樣品提供最佳測量條件
● 具四組濾波器,可提升元素檢測能力
● 兩年保固最新高感度SDD偵測器
● 不需抽真空,即可檢測Al、Si、P、S、Cl等輕元素
Model
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MESA-50
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原理
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能量散射X射線螢光光譜儀
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應用
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RoHS、ELV、無鹵
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測量元素
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13Al - 92U
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樣品類型
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固體、液體、粉體
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X-ray tube
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Max 50kV, 0.2mA
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X-ray analysis diameter
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1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
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X-ray primary filter
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X-ray primary filter
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Detector type
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SDD (Silicon Drift Detector)
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Signal processor
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DPP (Digital Pulse Processor)
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Sample imaging
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CCD camera
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Operation
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PC (Windows ® 7)
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Power supply
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AC adapter (100-240V, 50/60Hz), battery
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Analysis Function
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Multilayer Film FPM (Optional), Sb/As analysis
(Optional)
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Model
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MESA-50K
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原理
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能量散射X射線螢光光譜儀
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應用
|
RoHS、ELV、無鹵
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測量元素
|
13Al - 92U
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樣品類型
|
固體、液體、粉體
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X-ray tube
|
Max 50kV, 0.2mA
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X-ray analysis diameter
|
1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
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X-ray primary filter
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X-ray primary filter
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Detector type
|
SDD (Silicon Drift Detector)
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Signal processor
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DPP (Digital Pulse Processor)
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Sample imaging
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CCD camera
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Chamber size
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460*360*150mm[W*D*H]
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Operation
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PC (Windows ® 7)
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Power supply
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AC adapter (100-240V, 50/60Hz)
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Analysis Function
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Multilayer Film FPM (Optional), Sb/As analysis
(Optional)
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