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2016年1月11日

2016 NEW全新產品-迷你型-粒徑分析儀 新上市!! 業界最小機台!!

日本
H O R I B A
2 0 1 6 全.新.機.型

Partica mini LA-350


迷你型粒徑分析儀
| 外.型.精.巧 | A3紙張尺寸大小  | 省.空.間 | 適用產線現場或檢驗室


全新內置式 高 效 率 分 散 系 統
【適用100nm-1000um粒子】
1. 強力離心式循環pump : 具15段流速設定,最大流速5.7L/min
2. in-line pobe type 超音波震盪器 : 具7段功率可提高分散效率,可設定:1-30min
3. 濕式量測系統 : 可選擇水相或溶劑相
4. 升級附件 :自動進分散液、清洗、消泡、稀釋
全新進化 光 學 系 統 【精度重複性全面提升】
1. 採用650nm ,5mW半導體雷射LED,壽命長且強度穩定,不易衰減
2. 寬量測角度0.03-133°,訊號接收由70組偵測器環繞樣品槽組成,達到提升精度與重複性
3. 光學全自動校調並具自我偵測功能

全 方 位 操 作 軟 體

STEP1 選擇項次
STEP2 投入樣品
STEP3 測量結果

易:
操 作 簡 單 只 需 三 個 步 驟
省:
分散液只需130ml
樣品量只需10mg~5g
速:
測量速度約10秒

規 格 比 較


擴 充 附 件


Fraction cell unit
Flow cell unit
全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
www.trendtop.com.tw
sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3
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關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑  顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑

2009年10月30日

世界最廣!! Zeta 電位粒徑分佈儀 Zeta potential (三)

Zeta 電位粒徑分佈儀 Zeta potential



Horiba最新力作!!

測量範圍最廣、樣品量最少、重複性最高

粒徑、Zeta電位、分子量 功能三合一



■ 測量原理:

zeta potential是維持靜態平衡的分散液與分散粒子之間的電位差。
詳細介紹

















■ SZ-100應用:



基本規格
型錄下載

關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑  顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑

2009年10月28日

靜態雷射粒徑分析儀 particle size distributor (一)


粒徑分析儀
 Particle Size Distribution Analyzer


品牌:HORIBA             產地:日本

日本
H O R I B A
2 0 1 6 全.新.機.型

Partica mini LA-350


迷你型粒徑分析儀
| 外.型.精.巧 | A3紙張尺寸大小  | 省.空.間 | 適用產線現場或檢驗室


全新內置式 高 效 率 分 散 系 統
【適用100nm-1000um粒子】
1. 強力離心式循環pump : 具15段流速設定,最大流速5.7L/min
2. in-line pobe type 超音波震盪器 : 具7段功率可提高分散效率,可設定:1-30min
3. 濕式量測系統 : 可選擇水相或溶劑相
4. 升級附件 :自動進分散液、清洗、消泡、稀釋
全新進化 光 學 系 統 【精度重複性全面提升】
1. 採用650nm ,5mW半導體雷射LED,壽命長且強度穩定,不易衰減
2. 寬量測角度0.03-133°,訊號接收由70組偵測器環繞樣品槽組成,達到提升精度與重複性
3. 光學全自動校調並具自我偵測功能

全 方 位 操 作 軟 體

STEP1 選擇項次
STEP2 投入樣品
STEP3 測量結果

易:
操 作 簡 單 只 需 三 個 步 驟
省:
分散液只需130ml
樣品量只需10mg~5g
速:
測量速度約10秒

規 格 比 較


擴 充 附 件


Fraction cell unit
Flow cell unit




Laser Scattering Particle Size

Distribution Analyzer LA-960

雷射散射.粒徑分析儀


粒徑分析儀 產品簡介
1. LA系列最新機種,具備中文操作介面,配件擴充性廣及具有高精確度及再現性測試結果


特色
● 涵蓋粒徑10nm到5000um超大的量測範圍。
● ±0.6%的高精度保證並具±0.1%高重複性。
● 從加入分散相、投樣、測定、排空洗淨及計算結果,每一樣本在1分鐘即可完成。
● 軟體系統中的”導航功能”簡化了複雜的參數設定及測定步驟。
● 可同時安裝三種不同樣品分散系統(濕式、乾式、微量),切換簡易,無需拆卸。



* 加裝乾式系統之粒徑分析儀





Model
LA-960
測量原理
Mie散射原理
測量粒徑範圍
0.01-5000um
測量時間
1分鐘(從分散相加入到循環系統洗淨並顯示測試結果)
測量所需樣品量
10mg~5g
分散液所需量
180~250mL(使用循環系統時)10mL(使用微量分析裝置)
可使用的分散液
水、乙醇及有機溶劑
連線
USB2.0
光學系統
(1)   光源 : 半導體雷射(650nm) 5mW LED(405nm) 3mW
(2)   檢測器 : 矽光電二極體
樣品循環系統
(1)   超音波輔助分散裝置 : 30W 20kHz
(2)   可調式循環馬達 : 15段變化最大循環量每分鐘10L
(3)   Flow cell(Tempax glass)
使用温度、濕度
153585RH以下
電源
AC100/120/230V 50/60Hz 300VA
外型尺寸
705(W)*565(D)*500(H) mm
重量
56kg






Dynamic Laser Particle Size /

Zeta Potential Analyzer SZ-100

動態雷射.粒徑暨界面電位分析儀


產品簡介
1. 廣泛分析範圍,可測量粒徑、zeta 電位及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測




領域
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色
● 操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
● 採用高功率綠光雷射,提供最佳的偵測精度及重複性
● 軟體具有重新計算模式,可大量節省實驗時間
● 超低樣品需求量,樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析,100uL即可進行zeta 電位分析
● 獨家設計可拆洗式zeta電位量測樣品槽,可單獨替換電極部分,大量節省日後耗材費用



Model
SZ-100Z
測量原理
Particle size : Dynamic Light Scattering
Zeta potential : Laser Doppler electrophoresis
Molecular weight : Debye plot method
粒徑測量範圍
Particle size : 0.3nm to 8um
Zeta potential : -200 to +200mV
Molecular weight : 1×1032×107
最大樣品濃度
40wt%
測量時間
2分鐘
溫控系統
電子控溫可設定1-90
連線
USB2.0
光學系統
(1)   光源 : 532nm綠光雷射
(2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度
153585RH以下
電源
AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸
528(W)*385(D)*273(H) mm
重量
25kg



全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
www.trendtop.com.tw
sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3

關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑  顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑

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