日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀

日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀 日本HORIBA micro-XRF能在不破壞樣品下，以10µm微聚焦X光束掃描樣品，獲取掃描面積內的元素成分與含量訊號及對X光穿透強度的訊號，並可以不同的顏色呈現掃描面積內元素分布圖與X光穿透影像。 專利10µm X光聚焦導管 可將X光聚焦至10µm，針對微小的區域測量元素，並可在元素面積掃描時提供最佳的成像解析度 100X放大CCD鏡頭 可透過電腦螢幕直接觀看，確認測量位置。並可直接點選要檢測的位置，樣品會自動移動至定位 大樣品室，樣品不需裁切破壞 真空設計，感度最佳 450 x 500 x 80mm大樣品室空間，下潛式艙門，樣品擺放容易。 樣品室可抽真空，提高偵測感度。若需測量粉體或液體，也可獨立抽光學室真空，避免樣品室污染 Smart元素掃描成像 同步X光穿透影像 XGT-7200V可設定範圍進行掃描，掃描完成後可呈現各元素的分布圖，並可計算掃描面積內各元素的含量 可於元素面積掃描成像時，同步成像X光穿透影像，輔助分析研究 SDD高感度偵測器 友善導引操作介面 採用新一代高感度SDD偵測器，大幅提升偵測感度，免液態氮 智慧導引操作介面，操作容易 日本HORIBA XGT-7200V µXRF元素掃描成像儀 規格： 元素範圍：Na ~ U X光聚焦尺寸：𝟇10、100µm(可軟體切換） 最大掃描面積：10 x 10 cm 樣品室尺寸：450 x 500 x 80 mm 產 品 詳 細 介 紹 網 頁 全拓科技有限公司 Tel：02-8227-3526 Email：sales@trendtop.com.tw Web：www.trendtop.com.tw

輕巧型元素分析儀-MESA-50全新軟體-日本HORIBA

HORIBA MESA-50元素分析儀全新軟體

Horiba MESA-50推出全新介面軟體，更Smart！量測更快速！全自動判斷樣品量測參數，量測更精準！歡迎舊雨新知聯絡洽詢，預約demo

整合型視窗介面，資料庫管理模式

採用整合視窗介面，完整顯示不需切換畫面 各區域可自由調整位置，方便使用者操作 測量結果採資料庫管理，測量完成會自動儲存於設定之資料庫，方便管理

一鍵自動測量 使用者不需判斷材質，只需執行RoHS測量鍵，即可自動判定樣品材質並自動設定補償參數，降低誤操作造成的誤差 自動判斷測量時間 可依設定的允收值自動判斷樣品測量時間，可大幅增加量測速度

全新鐵材Cr補償 報告自動生成

可修正含鐵材料所造成的Cr誤差，提升量測精準度 全新報告模式，可自由編排欄位及排列方式 可直接於欄位輸入樣品資訊 可輸出PDF、EXCEL、Word

日本HORIBA MESA-50 元素分析儀 規格： 元素範圍：Al ~ U X光聚焦尺寸：𝟇1.2、3、7mm(可軟體切換） RoHS元素：Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Cl, (可選購Sb, As) 鍍層厚度量測：可選購 偵測器：高感度SDD偵測器 外型尺寸：A4大小，W208 x D294 x H205 mm 樣品室尺寸：W190 x D225 x H40 mm 重量：12kg 電源：100 ~ 240V，內建鋰電池，最常待機時間2hr

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動態雷射粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z

動態雷射 粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z
Dynamic Laser Particle Size/Zeta Potential Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA
產品簡介
1. 廣泛分析範圍，可測量粒徑、zeta 電位及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測

領域
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色
●　操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
●　採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
●　軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
●　超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析，100uL即可進行zeta 電位分析
●　獨家設計可拆洗式zeta電位量測樣品槽，可單獨替換電極部分，大量節省日後耗材費用

Model	SZ-100Z
測量原理	Particle size : Dynamic Light Scattering Zeta potential : Laser Doppler electrophoresis Molecular weight : Debye plot method
粒徑測量範圍	Particle size : 0.3nm to 8um Zeta potential : -200 to +200mV Molecular weight : 1×103～2×107
最大樣品濃度	40wt%
測量時間	約2分鐘
溫控系統	電子控溫可設定1-90℃
連線	USB2.0
光學系統	(1)   光源 : 532nm綠光雷射 (2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度	15℃～35℃、85％RH以下
電源	AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸	528(W)*385(D)*273(H) mm
重量	25kg

全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
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sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3

關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑

【動態雷射粒徑分佈儀】SZ-100S

Dynamic Laser Particle Size Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA

應用領域第一層    □材料分析 □食品飼料製藥

產品簡介 
1. 廣泛分析範圍，可測量奈米粒徑及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測
3.
領域 
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色 
●　操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
●　特殊開發多角度高靈敏接收偵測器，可偵測低濃度及高濃度樣品的粒徑分佈
●　採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
●　軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
●　超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析

Model	SZ-100S
測量原理	Particle size : Dynamic Light Scattering Molecular weight : Debye plot method
測量範圍	Particle size : 0.3nm to 8um Molecular weight : 1×103～2×107
最大樣品濃度	40wt%
粒徑精確度	±2%以內(NIST Traceable Standards)
測量角度	90 and 173
測量時間	約2分鐘(從開始測量到顯示測量結果)
溫控系統	電子控溫可設定1-90℃
連線	USB2.0
光學系統	(1)   光源 : 532nm綠光雷射 (2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度	15℃～35℃、85％RH以下
電源	AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸	528(W)*385(D)*273(H) mm
重量	25kg

【雷射散射粒徑分佈儀】 LA-960

【雷射散射粒徑分佈儀】 LA-960
Laser Scattering Particle Size Distribution Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA


粒徑分析儀 產品簡介
1. LA系列最新機種，具備中文操作介面，配件擴充性廣及具有高精確度及再現性測試結果


特色
●　涵蓋粒徑10nm到5000um超大的量測範圍。
●　±0.6％的高精度保證並具±0.1％高重複性。
●　從加入分散相、投樣、測定、排空洗淨及計算結果，每一樣本在1分鐘即可完成。
●　軟體系統中的”導航功能”簡化了複雜的參數設定及測定步驟。
●　可同時安裝三種不同樣品分散系統(濕式、乾式、微量)，切換簡易，無需拆卸。

 

* 加裝乾式系統之粒徑分析儀

Model	LA-960
測量原理	Mie散射原理
測量粒徑範圍	0.01-5000um
測量時間	1分鐘(從分散相加入到循環系統洗淨並顯示測試結果)
測量所需樣品量	10mg~5g
分散液所需量	約180~250mL(使用循環系統時)約10mL(使用微量分析裝置)
可使用的分散液	水、乙醇及有機溶劑
連線	USB2.0
光學系統	(1)   光源 : 半導體雷射(650nm) 5mW、 LED(405nm) 3mW (2)   檢測器 : 矽光電二極體
樣品循環系統	(1)   超音波輔助分散裝置 : 30W 20kHz (2)   可調式循環馬達 : 可15段變化最大循環量每分鐘10L (3)   Flow cell(Tempax glass)
使用温度、濕度	15℃～35℃、85％RH以下
電源	AC100/120/230V 50/60Hz 300VA
外型尺寸	705(W)*565(D)*500(H) mm
重量	56kg

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Tel: 02-8227-3526
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sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3

關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑