2016年7月15日

micro-XRF元素掃描成像儀-日本HORIBA

日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀
日本HORIBA micro-XRF能在不破壞樣品下,以10µm微聚焦X光束掃描樣品,獲取掃描面積內的元素成分與含量訊號及對X光穿透強度的訊號,並可以不同的顏色呈現掃描面積內元素分布圖與X光穿透影像。
專利10µm X光聚焦導管
可將X光聚焦至10µm,針對微小的區域測量元素,並可在元素面積掃描時提供最佳的成像解析度
100X放大CCD鏡頭
可透過電腦螢幕直接觀看,確認測量位置。並可直接點選要檢測的位置,樣品會自動移動至定位
大樣品室,樣品不需裁切破壞
真空設計,感度最佳
450 x 500 x 80mm大樣品室空間,下潛式艙門,樣品擺放容易。
樣品室可抽真空,提高偵測感度。若需測量粉體或液體,也可獨立抽光學室真空,避免樣品室污染
Smart元素掃描成像
同步X光穿透影像
XGT-7200V可設定範圍進行掃描,掃描完成後可呈現各元素的分布圖,並可計算掃描面積內各元素的含量
可於元素面積掃描成像時,同步成像X光穿透影像,輔助分析研究
SDD高感度偵測器
友善導引操作介面
採用新一代高感度SDD偵測器,大幅提升偵測感度,免液態氮
智慧導引操作介面,操作容易
日本HORIBA XGT-7200V µXRF元素掃描成像儀 規格: 元素範圍:Na ~ U
X光聚焦尺寸:𝟇10、100µm(可軟體切換)
最大掃描面積:10 x 10 cm
樣品室尺寸:450 x 500 x 80 mm




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2016年7月14日

Cryo-CLEM 顯微鏡冷凍控制系統

光學、電子顯微鏡整合系統(Correlative Light and Electron Microscope, CLEM)

 顯微加熱平台
近期十分重要的檢測利器

英國LINKAM身為全球第一大的顯微鏡溫控系統製造商,特別與荷蘭萊頓大學醫學中心 (Leiden University Medical Centre)合作開發CLEM專用的冷凍控制系統。

 


 

英國LINKAM CMS196 Cryo-CLEM冷凍控制系統

  • 內建冷凍樣品監測功能,可自動補充樣品室液態氮維持-196℃,使樣品保持玻璃化冷凍狀態,並可避免污染
  • 可長時間維持高穩定度
  • 內建自動XY移動載台,具高精度光學編碼,可進行1µm精準移動控制並可執行自動mapping
  • 適用各大廠牌顯微鏡
  • 磁力對準式樣品座,可一次放置三組樣品,可安全、無污染的進行樣品放置、儲存及傳送
  • 適用NA 0.9的螢光物鏡
  • 內建液態氮儲存槽,可不需外接液態氮桶連續使用35分鐘,若連接3L儲存桶可連續使用一天
  • 內建LCD液晶顯示及單機操作按鍵,並可連接電腦使用軟體操作
  • 可自動執行水氣排除
  • 為世界第一Cryo-CLEM設備
相關連結

CMS196應用資料一
CMS196應用資料二
CMS196 自動mapping影片展示





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2016年7月13日

顯微鏡、拉曼用高壓高溫微型觸媒反應器

顯微鏡、拉曼用高壓高溫微型觸媒反應器

顯微鏡溫控平台第一大廠英國LINKAM針對觸媒研究,

開發可用於顯微鏡、拉曼光譜儀等光學儀器的微型溫控高壓反應器CCR1000,

在反應的同時,可進行顯微影像或是拉曼光譜的記錄量測。


CCR1000高壓微型觸媒反應器

最高可至1000℃,並具有200℃/min的快速升溫能力,壓力最高可達5bar。
樣品載台採用可拆 卸氧化鋁管及拋棄式氧化鋁纖維濾膜,方便裝、卸載樣品。






抗腐蝕耐高壓設計

與樣品及氣體接觸之元件均採用抗腐蝕
材料,適用大部分高腐蝕性氣體。
高導熱氣體(He, H2)亦可使用。
樣品裝、卸載方便
 

採用抗腐蝕氧化鋁樣品管,可輕易取出裝卸樣品


陶瓷纖維濾膜

氧化鋁管內安裝可拋棄式氧化鋁纖維濾
膜,可使氣體流過樣品,增加反應面積
可更換視窗
 

可依照儀器波長,更換適用的視窗材質

英國LINKAM CCR1000 高壓微型觸媒反應器

  • 控溫範圍:室溫 ~ 1000℃ 
  • 升溫速率:1 ~ 200℃/min
  • 溫度穩定度:1℃
  • 壓力範圍:最高可至5bar(使用石英視窗)
  • 樣品量:70 ~ 100mg
  • 物鏡適用工作距離:6mm
  • 具水循環設計,避免本體過熱
  • 可安裝於各大廠牌顯微鏡 
  •  

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