2016年7月15日

micro-XRF元素掃描成像儀-日本HORIBA

日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀
日本HORIBA micro-XRF能在不破壞樣品下,以10µm微聚焦X光束掃描樣品,獲取掃描面積內的元素成分與含量訊號及對X光穿透強度的訊號,並可以不同的顏色呈現掃描面積內元素分布圖與X光穿透影像。
專利10µm X光聚焦導管
可將X光聚焦至10µm,針對微小的區域測量元素,並可在元素面積掃描時提供最佳的成像解析度
100X放大CCD鏡頭
可透過電腦螢幕直接觀看,確認測量位置。並可直接點選要檢測的位置,樣品會自動移動至定位
大樣品室,樣品不需裁切破壞
真空設計,感度最佳
450 x 500 x 80mm大樣品室空間,下潛式艙門,樣品擺放容易。
樣品室可抽真空,提高偵測感度。若需測量粉體或液體,也可獨立抽光學室真空,避免樣品室污染
Smart元素掃描成像
同步X光穿透影像
XGT-7200V可設定範圍進行掃描,掃描完成後可呈現各元素的分布圖,並可計算掃描面積內各元素的含量
可於元素面積掃描成像時,同步成像X光穿透影像,輔助分析研究
SDD高感度偵測器
友善導引操作介面
採用新一代高感度SDD偵測器,大幅提升偵測感度,免液態氮
智慧導引操作介面,操作容易
日本HORIBA XGT-7200V µXRF元素掃描成像儀 規格: 元素範圍:Na ~ U
X光聚焦尺寸:𝟇10、100µm(可軟體切換)
最大掃描面積:10 x 10 cm
樣品室尺寸:450 x 500 x 80 mm




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