2015年4月23日

【耐火材料測試系統】RUL高溫荷重及壓縮蠕變測試儀

品牌:NETZSCH
產地:德國


可測量耐火材料在高溫及一定負重下的形變行為，可用來檢測軟化溫度及收縮率。

內容：

NETZSCH RUL 421高溫荷重及壓縮蠕變測試儀規格
型號
RUL / CIC 421
溫度範圍
室溫 ~ 1700℃
升降溫速率
0 ~ 5 k/min
負重
1 ~ 1000 N
測量範圍
20000 µm
解析度
5 nm
樣品長度
50 mm
樣品直徑
50 mm
適用氣氛
惰性氣體、氧化氣體、真空

NETZSCH》產品內容
 
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【耐火材料測試系統】PCE高溫測溫錐示溫系統


品牌:NETZSCH
產地:德國


根據Seger原理將樣品與數個不同熔點之示溫錐同時加熱，每個示溫錐熔點大約間隔10度，如此可獲得準確的耐火材料軟化溫度。符合標準方法 ISO170。

內容：

NETZSCH PCE 428高溫測溫錐示溫系統規格
型號
PCE 428
溫度範圍
室溫 ~ 1700℃
升溫速率
0.01 ~ 5 k/min
測量範圍
10000 µm
示溫錐尺寸
小型（實驗室型）
適用氣氛
惰性氣體、氧化氣體

NETZSCH》產品內容
 
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【耐火材料測試系統】HMOR破裂模數測試儀

品牌:NETZSCH
產地:德國


商品簡介：
可測量耐火材料在高溫下受到三點彎曲時能承受的最大壓力，符合標準方法 ISO5013。



NETZSCH HMOR 422 破裂模數測試儀規格
型號
HMOR 422 D/3
溫度範圍
室溫 ~ 1500℃
負重
1 ~ 5000 N
測量範圍
10000 µm
樣品尺寸
150 x 25 x 25 mm
恆定形變
10 ~ 2000 µm/min
適用氣氛
惰性氣體、氧化氣體

NETZSCH》產品內容
 
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動態雷射粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z


動態雷射 粒徑分佈暨界面電位儀 SZ-100Z
Dynamic Laser Particle Size/Zeta Potential Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA
產品簡介
1. 廣泛分析範圍，可測量粒徑、zeta 電位及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測


領域
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色
●　操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
●　採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
●　軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
●　超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析，100uL即可進行zeta 電位分析
●　獨家設計可拆洗式zeta電位量測樣品槽，可單獨替換電極部分，大量節省日後耗材費用


Model
SZ-100Z
測量原理
Particle size : Dynamic Light Scattering
Zeta potential : Laser Doppler electrophoresis
Molecular weight : Debye plot method
粒徑測量範圍
Particle size : 0.3nm to 8um
Zeta potential : -200 to +200mV
Molecular weight : 1×103～2×107
最大樣品濃度
40wt%
測量時間
約2分鐘
溫控系統
電子控溫可設定1-90℃
連線
USB2.0
光學系統
(1)   光源 : 532nm綠光雷射
(2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度
15℃～35℃、85％RH以下
電源
AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸
528(W)*385(D)*273(H) mm
重量
25kg

全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
www.trendtop.com.tw
sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3


關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑
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【動態雷射粒徑分佈儀】SZ-100S


Dynamic Laser Particle Size Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA

應用領域第一層    □材料分析 □食品飼料製藥

產品簡介 
1. 廣泛分析範圍，可測量奈米粒徑及絕對分子量
2. 超低樣品需求量即可量測
3.
領域 
1. 陶瓷奈米粒子,金屬奈米粒子,微胞,碳黑,藥物,病毒,油漆塗料,化妝品,聚合物,食品,CMP,顏料

特色 
●　操作簡單測量快速約只需2分鐘即可完成
●　特殊開發多角度高靈敏接收偵測器，可偵測低濃度及高濃度樣品的粒徑分佈
●　採用高功率綠光雷射，提供最佳的偵測精度及重複性
●　軟體具有重新計算模式，可大量節省實驗時間
●　超低樣品需求量，樣品量僅需12uL即可進行粒徑分析




Model
SZ-100S
測量原理
Particle size : Dynamic Light Scattering
Molecular weight : Debye plot method
測量範圍
Particle size : 0.3nm to 8um
Molecular weight : 1×103～2×107
最大樣品濃度
40wt%
粒徑精確度
±2%以內(NIST Traceable Standards)
測量角度
90 and 173
測量時間
約2分鐘(從開始測量到顯示測量結果)
溫控系統
電子控溫可設定1-90℃
連線
USB2.0
光學系統
(1)   光源 : 532nm綠光雷射
(2)   檢測器 : 光電倍增管
使用温度、濕度
15℃～35℃、85％RH以下
電源
AC100-240V 50/60Hz 150VA
外型尺寸
528(W)*385(D)*273(H) mm
重量
25kg
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【雷射散射粒徑分佈儀】 LA-960


【雷射散射粒徑分佈儀】 LA-960
Laser Scattering Particle Size Distribution Analyzer
產地    日本
品牌    HORIBA


粒徑分析儀 產品簡介
1. LA系列最新機種，具備中文操作介面，配件擴充性廣及具有高精確度及再現性測試結果


特色
●　涵蓋粒徑10nm到5000um超大的量測範圍。
●　±0.6％的高精度保證並具±0.1％高重複性。
●　從加入分散相、投樣、測定、排空洗淨及計算結果，每一樣本在1分鐘即可完成。
●　軟體系統中的”導航功能”簡化了複雜的參數設定及測定步驟。
●　可同時安裝三種不同樣品分散系統(濕式、乾式、微量)，切換簡易，無需拆卸。

 
* 加裝乾式系統之粒徑分析儀





Model
LA-960
測量原理
Mie散射原理
測量粒徑範圍
0.01-5000um
測量時間
1分鐘(從分散相加入到循環系統洗淨並顯示測試結果)
測量所需樣品量
10mg~5g
分散液所需量
約180~250mL(使用循環系統時)約10mL(使用微量分析裝置)
可使用的分散液
水、乙醇及有機溶劑
連線
USB2.0
光學系統
(1)   光源 : 半導體雷射(650nm) 5mW、 LED(405nm) 3mW
(2)   檢測器 : 矽光電二極體
樣品循環系統
(1)   超音波輔助分散裝置 : 30W 20kHz
(2)   可調式循環馬達 : 可15段變化最大循環量每分鐘10L
(3)   Flow cell(Tempax glass)
使用温度、濕度
15℃～35℃、85％RH以下
電源
AC100/120/230V 50/60Hz 300VA
外型尺寸
705(W)*565(D)*500(H) mm
重量
56kg

全拓科技有限公司
Tel: 02-8227-3526
www.trendtop.com.tw
sales@trendtop.com.tw
235新北市中和區中正路716號13樓之3



關鍵字:粒徑 粒徑分析 粒徑分析儀 奈米粒徑 粉體粒徑 界面電位 食品粒徑 品質管理 靜態粒徑 動態粒徑 乾式粒徑 濕式粒徑 溼式粒徑 分析粒徑大小 粒徑量測 粒徑分布 粒徑分佈 粒徑測定 粒徑測試 雷射粒徑 顆粒粒徑 微米粒徑 粒徑目數 粒徑單位 粒徑代測 粒徑機器 粒徑儀器 粒徑原理 最大粒徑 最小粒徑
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