德國NETZSCH 奈米鍍層熱傳量測儀

德國NETZSCH 奈米鍍層熱傳量測儀

日本產業技術綜合研究所開發，採用高速雷射量測，最薄可量測至10nm鍍層，為奈米鍍層熱擴散最佳分析利器

採用皮、奈秒雷射thermoreflectance量測原理，突破雷射閃光法熱擴散量測限制 傳統閃光法使用IR偵測器，無法記錄足夠微小及快速的溫度變化訊號，因而無法量測太薄的樣品。thermoreflectance法則使用奈秒或皮秒雷射進行量測，雷射在樣品表面反射後，會隨樣品表面溫度變化而改變反射的強度，因而可用來快速記錄樣品表面極小與極快的溫度變化

內建兩種量測模式，可依底材特性選擇 RF法：與laser flash閃光法量測方式相同，適於透光底材的鍍層量測。RF法為由底材端施以一脈衝雷射對鍍層加熱，並從鍍層端以奈秒或皮秒雷射測量鍍層表面的溫度變化 FF法：適於不透光底材鍍層測量。由鍍層表面施以一脈衝雷射加熱，並對同一位置以奈秒或皮秒雷射量測鍍層表面的溫度變化

NanoTR 奈秒雷射熱擴散量測儀 1. 適用鍍層厚度 RF法 金屬鍍層：1 ~ 20um 陶瓷鍍層：300nm ~ 5um 有機材鍍層：30nm ~ 2um FF法 鍍層厚度需大於1um 2. 量測時間：小於60秒 3. 樣品大小：10x10 ~ 20x20mm，總厚度需小於1mm PicoTR皮秒雷射熱擴散量測儀 1. 適用鍍層厚度 RF法 金屬鍍層：100 ~ 900nm 陶瓷鍍層：10nm ~ 300nm 有機材鍍層：10nm ~ 100nm FF法 鍍層厚度需大於100nm 2. 量測時間：小於5分鐘 3. 樣品大小：10x10 ~ 20x20mm，總厚度需小於1mm

量測原理論文

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